环氧树脂的飞行时间次级离子质谱仪分析(pdf 6页)

环氧树脂的飞行时间次级离子质谱仪分析内容提要：
八I-年代中后期发展的新型飞行时间次级离子质谱仪(TOF一SIMS) (1-6)有以下特
点:(1)并行探测所有质呈的离子，仪器传输串高，因而灵敏度高;(2)分析后.一般表面损
伤小于百分之一原子单层，几乎是无扣分析;(3)具有大的质最分析范围m/z0-10000;
(4)质量分讲率高，一般3000-10000; (5) 1-以液态金属离子枪，空间分辨率可达It微米
级(1.7-10).
与传统有机质谱分析一样，获得足够强度的分子离子。淮分子离子峰对有机结构分析特
别重要‘在粗枯化的银基底上，淀积待分析大分子有机物的单分子层或亚单分子层，是在
TOF-SIMS讲中产生银离化准分子离子(M+Ag)+的有效的方法.(M十Ag)相当于一个
未破坏的完整分子加上一个Ag+.用该方法研究各种聚合物很有效‘1,} 6)最近J. A
.Treverton等人用TOF-SIMS研究T一系列环氧树脂tic〕本文报导了用TOF- SIMS结合
银离化技术研究环氧618及环氧815的一些结果

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