CPK教材(ppt 21页)
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资料简介：
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一.统计制程管制
二.相关知识介绍
三. 质量变异原因
四. 制程能力分析
五. CPK概论
一.统计制程管制
1. 统计(Statistics):搜集 ,整理,分析,解析数据,以小看大,并做成结论
2. 统计制程管制(SPC: Statistical Process Control):
依计划收集制程连续数据数据,提供各种统计分析
及管制图之处理,计算,图示与列表,以达成预防,避免
不良的管制要求.
3. 统计方法: 设计抽样计划,由样本推测母体
二.相关知识介绍
1. 数据分类(Data category )
计量值(Variables):连续性,即两数值间有无限可能
数字.
计数值(Attribues): 间断性,即两数值间只容许有限
可能数字
2. 名词介绍:
批(Lot): 在相同条件下生产之一群东西的集合
样本(Sample):要研究某种特性的部分个之集合.
不良率 P=d/n=不良数/检验数
影响度=(某种不良的各数/不良总数)*100%
PPM(Parts Per Million):每百万个单位的不合格数.
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