QS9000五大工具概要说明(PPT 59页)
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二、量測過程
三、量測系統的統計特性
1.量測系統均須在統計管制下而其所產生之變異應根源於共同原因,而非特殊原因。
2.量測系統之變異須相對小於生產製程之變異。
3.量測系統之變異須相對小於規格界限。
4.量測系統之最小刻度須相對小於製程變異或規格界限之較小者。
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