数字电路测试系统介绍(doc 11页)
所属分类：信息技术
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资料简介：
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数字电路测试系统介绍内容提要：
美国Credence公司Electra MSR 100MHz
概述：
100MHz量测速率的功能验证性设备，具有 Funtional Pattern产生、仿真、测试， DC参数 量测等功能。
非常适合IC设计公司进行样片芯片验证性测试及分析
特性:
4M的向量存储深度/通道完整的功能Pattwen和DC参数测试系统 UNIX系统的操作软件，可视化友好界面
Shmoo Plot工具, 用于器件特性分析 可连接LABVIEW辅助性工具
直接连接到工作站服务器
系统规格
时钟频率：100 Mhz
数据速率： 200 Mbits/Sec
1.5 ns的上升和下降时间（ ECL、CMOS 电路）
每个管脚的电压和负载可编程
每个管脚可编程边缘分辨率50 ps
7 bits per Channel for Simultaneous Real-time
Compare and Data Acquisition
时钟线形稳定，偏差 ≦±100 ps
系统偏差≦±1ns (ATS1)
每个管脚可选用直流精密测量单元
Window、Edge和Dual-Edge 采样
128个I/O管脚 (ATS1)
APMU：直流精密测量单元
2.1 Gb扩展图形存储器
PCI-GPIB 和PCI-VXI接口板
Sun Ultra 10 工作站
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